因業務調整，部分個人測試暫不接受委托，望見諒。

檢測項目

熒光產額測量：評估樣品熒光輻射相對于激發強度的效率比率。檢測參數包括產額系數范圍0.01~1.0，測量誤差小于2%。

元素濃度分析：定量測定樣品中特定元素含量。檢測參數包括檢測限0.1ppm~1000ppm，重復性相對標準偏差小于3%。

背景噪聲評估：分析熒光信號中的背景干擾水平。檢測參數包括信噪比大于10:1，背景扣除精度0.5%。

激發效率檢測：評估X射線源對樣品的激發能力。檢測參數包括激發能量范圍5keV~100keV，效率損失因子小于5%。

樣品厚度影響：研究厚度變化對熒光產額的影響。檢測參數包括厚度范圍0.05mm~20mm，校正因子計算誤差低于1%。

探測器響應校準：校準探測器對熒光輻射的響應特性。檢測參數包括線性響應范圍1~10^6 counts/s，非線性誤差小于1.5%。

分辨率參數測定：測量系統能量分辨率性能。檢測參數包括能量分辨率100eV~300eV，峰寬半高值穩定性小于0.2%。

穩定性測試：評估儀器長期運行的穩定性。檢測參數包括漂移率每小時小于0.5%，計數率波動低于3%。

校準因子確定：確定定量分析的校準系數。檢測參數包括標準曲線擬合R平方值大于0.99，殘差分析允許偏差0.1%。

定量限計算：計算元素檢測的定量下限值。檢測參數包括定量限LOQ值0.5ppm~100ppm，置信區間95%。

檢測范圍

金屬合金：銅合金、鋁合金的成分定量分析。

礦石樣品：鐵礦石、金礦石的元素含量測定。

環境樣本：土壤、水體的污染物檢測。

制藥材料：藥品輔料雜質分析。

考古文物：陶瓷、玻璃的年代成分鑒定。

涂層材料：薄膜涂層的厚度和組成分析。

粉末樣品：粉末冶金材料的均勻性檢驗。

薄膜材料：半導體薄膜的層析元素分布。

電子元件：電路板焊料的鉛含量測定。

地質樣本：巖石礦物的化學成分識別。

檢測標準

依據ISO 3497測定金屬涂層厚度。

ASTM E1621用于合金元素定量分析。

GB/T 16594規定X射線熒光光譜法通則。

ISO 12677陶瓷材料的化學分析。

GB/T 223.79鋼鐵中元素測定方法。

ASTM D4326用于水樣重金屬檢測。

ISO 17054礦石樣品元素分析。

GB/T 176建筑材料的成分檢驗。

ISO 16159粉末樣品制備規范。

GB/T 18899電子材料元素含量測定。

檢測儀器

X射線熒光光譜儀：激發樣品并采集熒光輻射。在本檢測中，提供熒光強度和能量測量，支持元素濃度定量。

探測器裝置：高分辨率探測器用于信號采集。在本檢測中，實現熒光能量分辨和計數統計，確保信號精度。

樣品制備設備：制備均勻樣品表面。在本檢測中，包括研磨和壓片功能，保障檢測重復性。

能量校準源：提供標準能量基準。在本檢測中，用于儀器校準，維持測量準確性。

數據處理軟件：分析熒光光譜數據。在本檢測中，執行背景扣除和定量計算，輸出最終結果。

檢測流程

1、咨詢：提品資料(說明書、規格書等)

2、確認檢測用途及項目要求

3、填寫檢測申請表(含公司信息及產品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測)

5、收到樣品，安排費用后進行樣品檢測

6、檢測出相關數據，編寫報告草件，確認信息是否無誤

7、確認完畢后出具報告正式件

8、寄送報告原件