因業務調整，部分個人測試暫不接受委托，望見諒。

檢測項目

價帶偏移量測量：確定異質結界面處價帶頂能量差值，檢測參數包括能級差分辨率0.01eV

導帶偏移量分析：量化導帶底能量不連續性，測量精度達0.03eV

界面態密度表征：評估界面缺陷態分布，掃描范圍1010-1013cm-2eV-1

帶隙彎曲度檢測：分析空間電荷區能帶曲率，曲率半徑測量精度5%

量子限制斯塔克效應：測定電場誘導能帶變形量，電壓控制范圍10V

類型I/II能帶對齊判定：識別交錯式或錯開式能帶排列，分類誤差低于0.05eV

異質結帶階可視化：構建界面能帶二維圖譜，空間分辨率10nm

溫度依賴性能帶偏移：分析-196℃~300℃溫域偏移變化，溫控精度0.5K

應力誘導能帶調制：測量壓應變下能帶結構變化，應力加載范圍0-5GPa

載流子輸運勢壘高度：確定電子空穴穿越界面最小能量，檢測靈敏度0.02eV

檢測范圍

III-V族半導體異質結：砷化鎵/砷化鋁鎵等化合物界面能帶結構

硅基異質結構：硅/鍺硅量子阱及應變超晶格材料

二維材料范德華異質結：過渡金屬硫化物層間能帶排列

光伏器件pn結：鈣鈦礦/有機半導體界面能帶匹配

高電子遷移率晶體管：氮化鎵/氮化鋁鎵界面二維電子氣形成

量子級聯激光器：InGaAs/InAlAs多量子阱能帶工程

太陽電池吸收層：銅銦鎵硒/硫化鎘緩沖層能帶偏移

金屬/半導體接觸：肖特基勢壘高度與能帶彎曲

拓撲絕緣體異質結構：碲化鉍/硒化鉍界面態分布

氧化物電子器件：鈦酸鍶/釕酸鍶超晶格能帶調控

檢測標準

ISO22309:2011微束分析能譜定量方法

ASTMF76載流子濃度測試標準

GB/T18907-2013半導體器件能帶參數測試

IEC60749-28半導體熱載流子效應測試

GB/T35010-2018半導體材料能帶結構測量

檢測儀器

X射線光電子能譜儀：表面敏感能帶分析，結合能測量精度0.1eV

紫外光電子能譜系統：價帶結構表征，能量分辨率0.15eV

掃描隧道顯微鏡：原子尺度態密度成像，偏壓范圍10V

高分辨率透射電子顯微鏡：納米區域能帶偏移映射，空間分辨率0.1nm

低溫磁光測量系統：磁場依賴性能帶偏移分析，溫度范圍1.5-300K

檢測流程

1、咨詢：提品資料(說明書、規格書等)

2、確認檢測用途及項目要求

3、填寫檢測申請表(含公司信息及產品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測)

5、收到樣品，安排費用后進行樣品檢測

6、檢測出相關數據，編寫報告草件，確認信息是否無誤

7、確認完畢后出具報告正式件

8、寄送報告原件