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發布時間:2025-08-18
關鍵詞:磁體杜瓦密封性驗證測試周期,磁體杜瓦密封性驗證測試儀器,磁體杜瓦密封性驗證測試案例
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來源:北京中科光析科學技術研究所
因業務調整,部分個人測試暫不接受委托,望見諒。
靜態漏率測試:在常溫常壓下,通過氦質譜檢漏儀檢測杜瓦容器的泄漏速率,檢測參數:漏率≤110??Pam/s(氦氣)。
動態壓力保持試驗:將杜瓦抽至10?Pa以下真空,關閉閥門后監測壓力變化,檢測參數:24小時壓力上升≤510?Pa。
氦氣背壓檢漏:在杜瓦外部施加氦氣壓力,內部用檢漏儀檢測泄漏點,檢測參數:氦氣壓力0.2~0.5MPa,漏率分辨率110?Pam/s。
低溫靜態漏率測試:將杜瓦冷卻至77K(液氮溫度),檢測低溫下的泄漏速率,檢測參數:漏率≤510??Pam/s(氦氣)。
接口密封性能測試:針對杜瓦的法蘭、管道接口進行檢漏,檢測參數:每個接口漏率≤110??Pam/s。
真空度恢復時間測試:將杜瓦從大氣壓抽至10?Pa所需時間,檢測參數:恢復時間≤2小時(使用100L/s真空泵)。
壓力循環試驗:重復施加0~0.3MPa壓力,監測泄漏情況,檢測參數:循環次數≥100次,無泄漏。
滲透泄漏測試:使用熒光滲透劑檢測微小泄漏,檢測參數:檢測靈敏度≤110??Pam/s。
焊縫密封性檢測:對杜瓦的焊接部位進行100%檢漏,檢測參數:焊縫漏率≤110??Pam/s。
長期穩定性測試:在10?Pa真空下放置6個月,監測壓力變化,檢測參數:壓力上升≤110?Pa/月。
超導磁體杜瓦:用于核磁共振(NMR)、粒子加速器等設備的低溫容器,需維持高真空以保持超導狀態。
低溫存儲杜瓦:用于液氦、液氮等低溫介質的存儲,密封性直接影響介質蒸發損耗。
航天用杜瓦:衛星、飛船上的低溫推進劑存儲容器,要求極端環境下的密封可靠性。
醫療設備杜瓦:超導MRI設備中的磁體冷卻容器,直接關系到成像質量和設備壽命。
科研用杜瓦:實驗室中用于材料低溫性能測試的容器,需滿足高精度實驗要求。
工業用杜瓦:低溫超導電機、變壓器中的冷卻系統,密封失效會導致設備停機。
量子計算設備杜瓦:量子比特的低溫環境容器,要求超高質量的真空密封。
低溫運輸杜瓦:液氦、液氮的長途運輸容器,密封性影響運輸過程中的介質保存。
超導電纜杜瓦:高溫超導電纜的低溫護套,需防止外部空氣進入影響超導性能。
軍事用杜瓦:紅外探測器、超導傳感器的低溫容器,要求高可靠性的密封設計。
GB/T31901-2015低溫絕熱容器漏率測試方法:規定了低溫絕熱容器漏率的測試方法,包括氦質譜檢漏法和壓力衰減法。
ISO2530:2019真空技術漏率測量氦質譜檢漏法:國際標準,用于氦質譜檢漏儀的校準和漏率測量。
ASTME498-20用氦質譜檢漏儀測定密封器件漏率的標準試驗方法:美國材料與試驗協會標準,適用于小型密封器件的漏率測試。
GB/T18443.3-2010真空絕熱深冷設備性能試驗方法第3部分:漏率測量:針對真空絕熱深冷設備的漏率測試規范。
ISO1607-2018真空技術密封件漏率測試:國際標準,用于密封件的漏率評估。
GB/T26963-2011超導磁體用杜瓦容器技術條件:超導磁體用杜瓦容器的技術要求和檢測方法。
ASTMF1110-20用壓力衰減法測定容器漏率的標準試驗方法:適用于壓力容器的漏率測試。
ISO14644-7:2019潔凈室及相關受控環境第7部分:泄漏檢測:潔凈環境下的泄漏檢測標準。
GB/T10893.2-2009分離機械性能試驗方法第2部分:漏率:分離機械的漏率測試規范。
ASTME1003-20用氣泡法測定密封件漏率的標準試驗方法:傳統的氣泡法漏率測試標準。
氦質譜檢漏儀:用于檢測杜瓦容器的微小泄漏,功能:支持真空模式和背壓模式,可檢測氦氣漏率低至110?Pam/s。
電離式真空計:測量杜瓦內部的真空度,功能:量程10??~10?Pa,精度5%,用于壓力保持試驗和漏率計算。
低溫恒溫器:將杜瓦冷卻至工作溫度(如77K),功能:提供穩定的低溫環境,用于低溫漏率測試,溫度范圍77~300K,控溫精度0.5K。
壓力傳感器:監測杜瓦內部壓力變化,功能:量程0~1MPa,分辨率1Pa,用于壓力循環試驗和長期穩定性測試。
熒光滲透檢測系統:包括滲透劑、清洗劑、紫外線燈,功能:檢測微小裂紋或泄漏點,靈敏度≤110??Pam/s。
真空機組:由真空泵、閥門、管道組成,功能:將杜瓦抽至所需真空度,用于壓力保持試驗和漏率測試,抽氣速率≥100L/s。
數據采集系統:記錄壓力、溫度、時間等參數,功能:實時監測和數據存儲,用于分析漏率變化趨勢。
1、咨詢:提品資料(說明書、規格書等)
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5、收到樣品,安排費用后進行樣品檢測
6、檢測出相關數據,編寫報告草件,確認信息是否無誤
7、確認完畢后出具報告正式件
8、寄送報告原件