中析研究所檢測中心
400-635-0567
中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
公司地址:
北京市豐臺(tái)區(qū)航豐路8號(hào)院1號(hào)樓1層121[可寄樣]
投訴建議:
010-82491398
報(bào)告問題解答:
010-8646-0567
檢測領(lǐng)域:
成分分析,配方還原,食品檢測,藥品檢測,化妝品檢測,環(huán)境檢測,性能檢測,耐熱性檢測,安全性能檢測,水質(zhì)檢測,氣體檢測,工業(yè)問題診斷,未知成分分析,塑料檢測,橡膠檢測,金屬元素檢測,礦石檢測,有毒有害檢測,土壤檢測,msds報(bào)告編寫等。
發(fā)布時(shí)間:2025-08-16
關(guān)鍵詞:高頻阻抗特性分析項(xiàng)目報(bào)價(jià),高頻阻抗特性分析測試方法,高頻阻抗特性分析測試儀器
瀏覽次數(shù):
來源:北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
因業(yè)務(wù)調(diào)整,部分個(gè)人測試暫不接受委托,望見諒。
復(fù)數(shù)阻抗測量:獲取特定頻率點(diǎn)電阻分量與電抗分量。具體參數(shù)包括阻抗幅值、相位角、實(shí)部與虛部。
阻抗頻率譜掃描:測量阻抗隨激勵(lì)頻率變化的動(dòng)態(tài)響應(yīng)。具體參數(shù)涵蓋特征諧振頻率、反諧振頻率及頻譜形態(tài)。
介電常數(shù)測定:量化材料儲(chǔ)存電場能量的能力。具體參數(shù)涉及相對介電常數(shù)實(shí)部ε'及其頻率依存性。
介質(zhì)損耗角正切:評(píng)估材料在交變電場中能量耗散程度。具體參數(shù)為損耗因子tanδ及損耗峰頻率。
品質(zhì)因數(shù):表征諧振系統(tǒng)儲(chǔ)能與耗能之比。具體參數(shù)包括無載Q值、有載Q值及頻率-帶寬關(guān)系。
等效串聯(lián)電阻:測量元器件在高頻下的純阻性損耗分量。具體參數(shù)為ESR值及其溫度系數(shù)。
等效并聯(lián)電容:確定高頻電路中分布式電容效應(yīng)。具體參數(shù)涵蓋寄生電容值及自諧振頻率。
散射參數(shù)分析:評(píng)估多端口網(wǎng)絡(luò)在高頻信號(hào)激勵(lì)下的傳輸與反射特性。具體參數(shù)包含S11、S21、S12、S22幅值與相位。
導(dǎo)納參數(shù)測量:獲取復(fù)數(shù)導(dǎo)納的實(shí)部與虛部。具體參數(shù)包括電導(dǎo)G、電納B及其頻響曲線。
阻抗溫度特性:分析阻抗參數(shù)在指定溫變范圍內(nèi)的漂移行為。具體參數(shù)為阻抗溫度系數(shù)及拐點(diǎn)溫度。
高頻電路基板材料:印刷電路板介質(zhì)層、高頻覆銅板、陶瓷基板等復(fù)合材料介電性能評(píng)估。
微波介質(zhì)陶瓷:諧振器、濾波器用鈦酸鍶鋇、鈦酸鋯錫等陶瓷材料的介電常數(shù)與Q值測試。
射頻同軸連接器:BNC、SMA、N型等接口的接觸阻抗及電壓駐波比特性分析。
天線輻射單元:微帶貼片天線、偶極子天線輸入阻抗及頻帶內(nèi)匹配特性檢測。
磁性材料:鐵氧體、非晶合金在高頻磁場下的復(fù)磁導(dǎo)率與磁損耗譜測量。
半導(dǎo)體封裝:引線框架、鍵合線、倒裝芯片凸點(diǎn)的高頻寄生參數(shù)提取。
電磁屏蔽材料:導(dǎo)電泡棉、金屬化織物表面轉(zhuǎn)移阻抗及屏蔽效能頻響測試。
生物組織模擬物:肌肉、脂肪組織等效介電模型在射頻段的參數(shù)驗(yàn)證。
納米功能涂層:石墨烯、碳納米管薄膜在高頻電磁場下的表面阻抗特性。
儲(chǔ)能器件:超級(jí)電容器、鋰電池電極材料交流內(nèi)阻及界面阻抗譜分析。
ASTMD150:固體電絕緣材料交流損耗特性及介電常數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)測試方法
IEC61189-3:電子材料試驗(yàn)方法第3部分印制板材料的互聯(lián)特性測試
GB/T1409:測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法
IPCTM-6502.5.5.13:高頻下介質(zhì)常數(shù)與損耗正切測試(分裂圓柱體諧振器法)
MIL-STD-883Method3011:半導(dǎo)體器件高頻電容-電壓特性測試
IEEEStd287:射頻與微波頻率下精密同軸連接器標(biāo)準(zhǔn)
SJ/TJianCe7:電子陶瓷材料介質(zhì)損耗角正切值及介電常數(shù)測試方法
GB/T17737:同軸通信電纜第1部分:總規(guī)范電氣試驗(yàn)方法
EN61338:波導(dǎo)型介電諧振器試驗(yàn)方法
JISC2565:鐵氧體材料在高頻磁性能測量方法
矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀:通過測量入射波與反射波幅相特性,獲取復(fù)數(shù)S參數(shù)及等效阻抗參數(shù)。頻率范圍覆蓋10MHz至110GHz。
阻抗材料分析儀:采用四電極接觸法或非接觸法,直接測量片狀/薄膜材料阻抗譜及介電特性。支持10mHz至120MHz頻段。
諧振腔測試系統(tǒng):利用TE01δ模式圓柱腔或微帶諧振器,通過Q值變化精確測定低損耗材料介電常數(shù)與損耗角。頻率精度達(dá)0.001%。
高頻LCR測量儀:基于自動(dòng)平衡電橋原理,快速測量分立元器件在指定頻率下的阻抗參數(shù)。基本精度0.05%,頻率上限30MHz。
時(shí)域反射計(jì):通過分析傳輸線中脈沖信號(hào)反射波形,定位阻抗突變點(diǎn)并計(jì)算不連續(xù)點(diǎn)阻抗值。時(shí)間分辨率達(dá)25ps。
1、咨詢:提品資料(說明書、規(guī)格書等)
2、確認(rèn)檢測用途及項(xiàng)目要求
3、填寫檢測申請表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)
4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測)
5、收到樣品,安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測
6、檢測出相關(guān)數(shù)據(jù),編寫報(bào)告草件,確認(rèn)信息是否無誤
7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件
8、寄送報(bào)告原件