因業(yè)務調整，部分個人測試暫不接受委托，望見諒。

檢測項目

物相鑒定：識別材料中的晶體物相類型。衍射角度范圍：5-90，精度0.01。

晶格參數(shù)測定：測量晶格常數(shù)如a,b,c。精度0.001。

結晶度分析：評估材料中非晶部分含量。結晶度指數(shù)計算范圍：0-100。

殘余應力測定：檢測材料內部應力分布。應力測量范圍：0-1000MPa，精度10MPa。

粒徑分析：通過散射模式測量顆粒尺寸。粒徑范圍：1nm-10μm，分辨率5nm。

取向分析：確定晶體晶格取向。取向度指標計算。

相含量定量：計算各物相比例。精度2%，檢測限0.5%wt。

高溫原位分析：在溫度變化下監(jiān)測相變。溫度范圍：室溫-1500C，加熱速率0.1-50C/min。

薄膜厚度測定：測量薄膜層厚度。厚度范圍：1nm-1μm，精度0.1nm。

缺陷分析：檢測晶格缺陷密度。缺陷密度計算范圍：10^5-10^10/cm。

檢測范圍

金屬材料：鋼鐵、鋁合金等合金物相組成分析。

陶瓷材料：氧化鋯、氮化硅等高溫陶瓷晶體結構鑒定。

礦物樣品：石英、方解石等地質礦物物相定性。

藥物晶體：活性藥物成分晶型和多態(tài)性分析。

半導體材料：硅、鍺等半導體晶格完整性檢測。

聚合物材料：半結晶聚合物結晶度評估。

催化劑：負載型催化劑組分相含量測定。

建筑材料：水泥、石膏化學成分物相分析。

考古樣品：古代陶器礦物組成鑒定。

納米材料：納米顆粒晶體結構表征。

檢測標準

ASTME975：X射線衍射定量分析方法標準。

ISO17974：X射線衍射儀校準規(guī)范。

GB/T12346：金屬材料X射線衍射分析標準。

ISO22278：殘余應力測定通用方法。

GB/T13298：鋼鐵顯微組織檢驗規(guī)程。

ASTME1426：粉末衍射數(shù)據(jù)評價指南。

ISO20203：高溫X射線衍射測試規(guī)范。

GB/T17394：金屬材料殘余應力測定方法。

ASTMD5380：聚合物結晶度分析標準。

ISO1853：粉末材料導電性能測試標準。

檢測儀器

粉末X射線衍射儀：適用于粉末樣品衍射數(shù)據(jù)采集。功能：測量廣角衍射圖案用于物相鑒定。

薄膜X射線衍射儀：專為薄膜樣品設計。功能：掠入射衍射分析薄膜晶體結構。

高溫附件：集成加熱裝置。功能：控制溫度進行原位相變監(jiān)測。

樣品旋轉臺：支持樣品多軸旋轉。功能：優(yōu)化衍射幾何提高數(shù)據(jù)分辨率。

數(shù)據(jù)處理軟件：集成衍射峰分析工具。功能：自動峰擬合和物相定量計算。

檢測流程

1、咨詢：提品資料(說明書、規(guī)格書等)

2、確認檢測用途及項目要求

3、填寫檢測申請表(含公司信息及產品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測)

5、收到樣品，安排費用后進行樣品檢測

6、檢測出相關數(shù)據(jù)，編寫報告草件，確認信息是否無誤

7、確認完畢后出具報告正式件

8、寄送報告原件